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□概要と特長 |
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本機は半導体素子用バーンイン装置です。
電源部には、大容量のドレイン電源、ゲート電源、などを備えています。
試験部は2部を搭載し、各々に電源スイッチを持ち、独立に開始/終了ができます。
ひとつの試験部には2個のDUTを実装した試験ボード5枚を装着できます。
温度調節器もDUTごとに装備しているため、DUTごとに異なる温度試験も可能となっています。
データロガーを試験部ごとに装備し、収集データはパソコンに取り込むことができます。
パソコンとのインターフェースはGPIBまたはシリアル(RS232C)のいずれも使用可能です。 |
□構成 |
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温調部 |
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試験部試験ボードに実装された各DUTに対応しています。 |
モニタ部 |
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試験部ごとに対応しています。
DUTごとに7点の計測を行うことができます。 |
試験部 |
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DUT2個を実装した試験ボードを5枚x2収納できます。 |
作業台 |
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引き出し式の簡易作業台です。 |
ドレイン電源部 |
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試験部ごとにDUTドレイン電源、AMPドレイン電源を別々に装備しています。 |
制御電源部 |
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試験部ごとにDUTゲート電源、AMPゲート電源を別々に装備しています。 |
主電源部 |
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本試験架のメインブレーカとヒータ電源を内蔵しています。 |
□用途 |
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半導体の
エージング |
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御社専用のバーンインボードを製作することにより素子のエージング装置として使用することができます。 |
□主な性能 |
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試験体数 |
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最大数20(10×2)体 |
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試験部数 |
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最大2部 |
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電源 |
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ドレイン電源:0〜+30V可変/2A/DUT
ゲート電源:0〜+18V可変/0.2A/DUT
試験ボード用電源:+5V/+15V/−15V
ヒーター用電源(AC100V/500VA)×2個 |
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温度調節 |
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温調器20個(DUTごとに1個)
設定調節範囲:最大200℃ |
□お問い合わせ |
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オプション |
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電源の種類や電圧/電流の変更や追加
データー収集ソフトの追加
など、ご要望を承ります。 |
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連絡先 |
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mail: welcome@mci-eng.co.jp
FAX:042-750-3416
TEL:042-711-7416
担当:鶴野(Tsuruno) |